高低溫濕熱試驗(yàn)箱高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)

優(yōu)質(zhì)高低溫濕熱試驗(yàn)箱性能參數(shù)：

機(jī)型：BY-260TH-408F

工作室尺寸：（寬×高×深）600×850×800mm

外箱尺寸約：（寬×高×深）1120×1900×1270mm

控制方式：平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)(BF-THC)，以P.I.D.方式控制SSR

溫度范圍：－40℃～＋150℃（可依據(jù)客戶需求定做）

濕度范圍：20～98％R.H.

溫度波動度：±0.5℃&溫度均勻度：±1.5℃

濕度波動度：±2%RH&濕度均勻度：±3%RH

升溫時(shí)間：平均3℃/MIN（非線性空載）

降溫時(shí)間：平均1℃/MIN  （非線性空載）

內(nèi)箱材質(zhì)：不銹鋼一級鏡面光板

外箱材質(zhì)：冷扎鋼板噴塑處理

保溫材質(zhì)：硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡+ 玻璃棉

冷凍系統(tǒng)：*歐美全封閉、半封閉壓縮機(jī)/環(huán)保冷媒、風(fēng)冷或者水冷（大型機(jī)組）

控制系統(tǒng)：*韓國TEMI系列控制系統(tǒng)

安全保護(hù)裝置： 無熔絲開關(guān),壓縮機(jī)過載保護(hù)開關(guān),冷媒高壓保護(hù)開關(guān),超溫保護(hù)開關(guān)，陶瓷保險(xiǎn)絲,水盤缺水保護(hù)開關(guān),電磁保護(hù)開關(guān),故障警告系統(tǒng),警報(bào)器

標(biāo)準(zhǔn)配置：視窗(三層真空隔熱玻璃)一個(gè)，上下可調(diào)隔層2片，測試孔?50mm（位于左測）1孔，加溫水箱一個(gè)，移動工作輪四個(gè)

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：

1.箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。

2.內(nèi)箱采用進(jìn)口高級不銹鋼（SUS304）鏡面板，外箱采用（SUS304）拉絲不銹鋼板或優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

3.設(shè)有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。

4.箱體左側(cè)配直徑25mm或50mm或100mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。

5.保溫材質(zhì)采用高密度玻璃纖維棉，厚度為80~100mm。門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性密封條，以確保測試區(qū)的密封。

6.設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過限制溫度及自動中斷運(yùn)行，保證試驗(yàn)安全進(jìn)行不發(fā)生意外。

7.補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動保護(hù)，更便利操作者補(bǔ)充水源。

8.加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性。

9.水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)采用門式開啟，方便維護(hù)和檢修。

10.試驗(yàn)箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪。

優(yōu)質(zhì)高低溫濕熱試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：

高低溫濕熱試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗(yàn)。